En un estudio publicado en la revista Science, científicos de la Academia Checa de Ciencias (ÚOCHB AV) presentaron un método sin precedentes para observar la distribución desigual de la carga electrónica alrededor de un átomo de halógeno. Al mejorar considerablemente las capacidades de distinción de la microscopía de barrido, pudieron observar la presencia de agujeros sigma (σ) y así confirmar su existencia.
“La confirmación de la existencia de los agujeros sigma, teóricamente afirmada hace 30 años, es similar a la observación de los agujeros negros, cuya existencia había sido anunciada ya en 1915, por la teoría de la relatividad general, pero que solo se pudo observar dos años atrás. En este sentido, la visualización de agujeros sigma marca, con cierta exageración, un punto de inflexión similar a nivel atómico ”, dijo Pavel Jelínek, involucrado en este gran proyecto.
Según la Academia de Ciencias, este descubrimiento proporcionará, por ejemplo, una mejor comprensión de las reacciones de moléculas individuales y la razón de la disposición de diferentes estructuras moleculares. Este nuevo método de obtención de imágenes también allana el camino para mejorar las propiedades materiales y estructurales de muchos sistemas físicos, biológicos y químicos que afectan la vida diaria de los seres humanos.
“Propensa a ataques de apatía. Evangelista de la cerveza. Café incurable. Experto en Internet”.